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CDM模式靜電測試系統(tǒng) CDM-I6K

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過去大家對人體模型(HBM)和機器模型(MM)相當重視,而忽視了帶電器件模型(CDM)對器件造成的損壞。近年的研究證明,在自動化程度越來越高,器件本身帶電所造成的損壞遠多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內(nèi)倒出帶電,在接觸或處理器件如由機器手或人取出時會時器件會發(fā)生放電,在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗原理方法和程序上都有很大的不同,HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞,而CDM是器件對其它物體放電所造成的損壞,從模型的基本理論、測試原理,試驗方法,測試設(shè)備都完全不同于HBM和MM。
CDM-I6K靜電試驗測試系統(tǒng)是按照標準設(shè)計的專門測試CDM的模擬器,具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩(wěn)定性好(時漂小于0.1%)、價格低等優(yōu)點。
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產(chǎn)品詳情

應用領(lǐng)域

芯片、IC電路、元器件等……

產(chǎn)品標準

ESD STM5.3.1—199

技術(shù)特點

本系統(tǒng)用于CDM靜電測試試驗。主要由直流高壓源、測試主機、靜電測試探針(含衰減器)三部分構(gòu)成,可實現(xiàn)帶電器件模型(CDM)靜電感應帶電、靜電放電及放電信號采集測試功能。

技術(shù)指標


輸出電壓

0.01~6kV ±5%

電壓極性

正、負或者正負交替。

放電間隔

20~999s

放電次數(shù)

1~999

使用環(huán)境

溫度:10℃~35℃ 相對濕度:30%~60%

電源

單相AC85~265V,50/60Hz

外形尺寸(mm)

主機350×260×160(D×W×H)

重量

約7.5kg



CDM模式靜電測試系統(tǒng) CDM-I6K
CDM模式靜電測試系統(tǒng) CDM-I6K

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過去大家對人體模型(HBM)和機器模型(MM)相當重視,而忽視了帶電器件模型(CDM)對器件造成的損壞。近年的研究證明,在自動化程度越來越高,器件本身帶電所造成的損壞遠多于HBM和MM。IC等器件本身由于接觸分離及摩擦如從管內(nèi)倒出帶電,在接觸或處理器件如由機器手或人取出時會時器件會發(fā)生放電,在流水線上常見的ESD就是典型的CDM靜電放電。CDM與HBM和MM無論在試驗原理方法和程序上都有很大的不同,HBM和MM都是由于IC外部的靜電放電造成IC等器件損壞,而CDM是器件對其它物體放電所造成的損壞,從模型的基本理論、測試原理,試驗方法,測試設(shè)備都完全不同于HBM和MM。
CDM-I6K靜電試驗測試系統(tǒng)是按照標準設(shè)計的專門測試CDM的模擬器,具有試驗電壓寬、精度高、分辨率高、穩(wěn)定性好(時漂小于0.1%)、價格低等優(yōu)點。
021-52703737
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本系統(tǒng)用于CDM靜電測試試驗。主要由直流高壓源、測試主機、靜電測試探針(含衰減器)三部分構(gòu)成,可實現(xiàn)帶電器件模型(CDM)靜電感應帶電、靜電放電及放電信號采集測試功能。

技術(shù)指標


輸出電壓

0.01~6kV ±5%

電壓極性

正、負或者正負交替。

放電間隔

20~999s

放電次數(shù)

1~999

使用環(huán)境

溫度:10℃~35℃ 相對濕度:30%~60%

電源

單相AC85~265V,50/60Hz

外形尺寸(mm)

主機350×260×160(D×W×H)

重量

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